旺矽科技股份有限公司 相關專利權資料
總計 65 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公開公告日期 | 公開公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2025-02-16 | 202507502 | 發明 | 基於人工智能的自動化節點流程生成系統、運作方法、檢測系統與非暫態電腦可讀取儲存媒體 |
| 2025-02-01 | 202505204 | 發明 | 接觸探針及其接觸件、接觸件的製造方法、使用該接觸件的探針系統、未封裝半導體裝置之測試方法、經測試之半導體裝置及其製造方法 |
| 2024-12-01 | 202447213 | 發明 | 探針座位置調整方法及使用該方法之可換探針座之測試機 |
| 2024-12-01 | 202447214 | 發明 | 快接式探針座 |
| 2024-11-11 | I861896 | 發明 | 探針座位置調整方法及使用該方法之可換探針座之測試機 |
| 2024-11-01 | 202443160 | 發明 | 用於對整合在半導體晶圓的受測裝置進行測試的探針系統及其中之探針卡、探針頭與導板結構 |
| 2024-10-16 | 202441194 | 發明 | 定位方法、執行該方法的探針系統、操作該探針系統的方法、非暫時性電腦可讀取儲存媒體及利用該探針系統生產經測試後的半導體裝置的方法 |
| 2024-10-11 | I858524 | 發明 | 電路板檢測設備 |
| 2024-09-11 | I855832 | 發明 | 探針卡、探針卡設計方法、生產/產生被測試的半導體器件的方法、利用一探針卡測試一未封裝半導體器件的方法、待測物以及探針系統 |
| 2024-08-16 | 202433069 | 發明 | 用於半導體測試之電路板及其製造方法 |