旺矽科技股份有限公司 相關專利權資料
總計 65 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公開公告日期 | 公開公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2025-12-01 | I906839 | 發明 | 用於對整合在半導體晶圓的受測裝置進行測試的探針系統及其中之探針卡、探針頭與導板結構 |
| 2025-12-01 | I906840 | 發明 | 用於對整合在半導體晶圓的受測裝置進行測試的探針系統及其中之探針卡、探針頭與導板結構 |
| 2025-12-01 | I906878 | 發明 | 快接式探針座 |
| 2025-12-01 | I906934 | 發明 | 基於人工智能的自動化節點流程生成系統、運作方法、檢測系統與非暫態電腦可讀取儲存媒體 |
| 2025-11-01 | 202542526 | 發明 | 探針系統及利用探針系統的方法 |
| 2025-10-01 | 202538904 | 發明 | 探針系統、用於探針系統中的晶圓測試管理系統的方法及其非暫態電腦可讀取媒體 |
| 2025-07-01 | 202526328 | 發明 | 探針頭、探針卡、測試設備及由測試設備進行測試的電子裝置 |
| 2025-05-16 | 202519878 | 發明 | 決定探針系統對受測裝置進行測試之針測參數的方法、探針系統及其運作方法、非暫時性電腦可讀儲存媒體、未封裝半導體裝置測試方法、經過測試之半導體裝置及其製造方法以及產生虛擬標記影像之方法 |
| 2025-04-01 | 202514123 | 發明 | 探針裝置及其製造方法以及包含有該探針裝置的探針卡 |
| 2025-03-01 | 202509492 | 發明 | 用於對整合在半導體晶圓的受測裝置進行測試的探針系統及其中之探針卡、探針頭與導板結構 |