旺矽科技股份有限公司 相關專利權資料

總計 26 筆資料

資料來源為:經濟部智慧財產局開放資料 API。


公告日 公告號 專利類別 專利名稱
2024-08-01 I851002 發明 用於半導體測試之電路板及其製造方法
2024-08-01 I850868 發明 探針頭與垂直式探針及垂直式探針的製造方法
2024-07-21 I849949 發明 具有彈簧探針的探針頭
2024-06-21 I846309 發明 用於半導體測試之電路板及其製造方法
2024-06-21 I846308 發明 用於半導體測試之電路板及其製造方法
2024-06-21 I845707 發明 可同時用於高頻及中低頻訊號測試之探針頭
2024-04-11 I838543 發明 可同時用於高頻及中低頻訊號測試之探針頭
2024-03-21 I836694 發明 光路校正配件、光學檢測組件以及光學檢測系統
2024-01-21 I829897 發明 探針製造方法
2023-12-11 I825442 發明 對齊晶圓的方法