旺矽科技股份有限公司 相關專利權資料
總計 65 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公開公告日期 | 公開公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2026-06-21 | I929855 | 發明 | 探針系統及其操作方法 |
| 2026-06-11 | I928480 | 發明 | 探針系統、用於探針系統中的晶圓測試管理系統的方法及其非暫態電腦可讀取媒體 |
| 2026-05-21 | I926351 | 發明 | 決定探針系統對受測裝置進行測試之針測參數的方法、探針系統及其運作方法、非暫時性電腦可讀儲存媒體、未封裝半導體裝置測試方法、經過測試之半導體裝置及其製造方法以及產生虛擬標記影像之方法 |
| 2026-04-21 | I922872 | 發明 | 定位方法、執行該方法的探針系統、操作該探針系統的方法、非暫時性電腦可讀取儲存媒體及利用該探針系統生產經測試後的半導體裝置的方法 |
| 2026-04-21 | I923263 | 發明 | 探針系統及利用探針系統的方法 |
| 2026-02-11 | I914870 | 發明 | 接觸探針及其接觸件、接觸件的製造方法、使用該接觸件的探針系統、未封裝半導體裝置之測試方法、經測試之半導體裝置及其製造方法 |
| 2026-02-01 | 202605371 | 發明 | 探針系統及其操作方法 |
| 2026-02-01 | I913598 | 發明 | 用於具有傾斜導電接點之待測單元的探針模組與測試方法以及待測單元及測試系統 |
| 2026-01-11 | I911840 | 發明 | 探針裝置及其製造方法以及包含有該探針裝置的探針卡 |
| 2025-12-11 | I908553 | 發明 | 探針頭、探針卡、測試設備及由測試設備進行測試的電子裝置 |