台灣積體電路製造股份有限公司 相關專利權資料
總計 4128 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公開公告日期 | 公開公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2025-01-16 | 202503331 | 發明 | 半導體結構及測量光學晶粒之方法 |
| 2025-01-16 | 202503575 | 發明 | 小虛設閘極特徵圖案插入方法與應用此方法之積體電路 |
| 2025-01-16 | 202503905 | 發明 | 製造半導體裝置的方法、多閘極半導體裝置及其製造方法 |
| 2025-01-16 | 202503989 | 發明 | 半導體裝置及其製造方法 |
| 2025-01-16 | 202504072 | 發明 | 半導體結構、半導體結構的製造方法與半導體裝置 |
| 2025-01-16 | 202504119 | 發明 | 半導體裝置、變容器及半導體裝置的形成方法 |
| 2025-01-01 | 202501061 | 發明 | 光子組件及其形成方法 |
| 2025-01-01 | 202501299 | 發明 | 用於評估產品設計的效能、功率與面積的方法、設備以及儲存媒體 |
| 2025-01-01 | 202501301 | 發明 | 積體電路及其製造方法 |
| 2025-01-01 | 202501399 | 發明 | 用於偵測半導體處理錯誤的方法 |