台灣積體電路製造股份有限公司 相關專利權資料

總計 4055 筆資料

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公開公告日期 公開公告號 專利類別 專利名稱
2022-05-16 202220073 發明 晶圓的光學檢驗方法、光學檢驗系統及鍍覆工具
2022-05-16 202220168 發明 半導體元件及其形成方法
2022-05-16 202220209 發明 半導體裝置及其形成方法
2022-05-01 202217368 發明 像素陣列與其製造方法
2022-05-01 202217381 發明 光子系統以及形成光子系統的方法
2022-05-01 202217812 發明 記憶體裝置及其操作方法
2022-05-01 202217980 發明 半導體裝置及其製造方法
2022-05-01 202217989 發明 半導體結構及其製造方法
2022-05-01 202218045 發明 半導體裝置及其製造方法
2022-05-01 202218046 發明 半導體結構及其形成方法